■信頼性評価
一般的なODM / OEMスタイルの製造工場は、信頼性評価を外注化するケースが多い為、時間ロスを余儀なくされます。
弊社は自社工場内に信頼性評価の環境を構築した事により、試作開発・量産品のプロセス変更時における、品質評価のリードタイム短縮を可能といたしました。
また、同時に解析環境も整える事で、故障モード発生時は解析と分析を行い、その結果を迅速に製品へフィードバックする事により、製品開発への改善にご活用いただけます。
1.受託スタイル
■アセンブリーに関係なく、信頼性評価のみでお取引可能です。
■各種試験及び評価解析の結果につきましては、報告書（￥10,000/1案件 費用追加）を作成いたします。
■機器・設備貸出もご利用いただけます。
*項目によっては弊社への委託対応のみとなります。
■基本作業見積に記載の価格は弊社への委託試験の金額となります。
*機器・設備貸し出しの場合は表示価格より人件費をお値引きいたします。
2.信頼性評価 仕様一覧
冷熱衝撃装置
| 装置イメージ | メーカー名 | 装置仕様 |
 «基本料金/Hr» ¥610～(+別途工数分) |
タバイエスペック(株)製 | ■高温槽温度範囲：50⇔350℃ ■低温槽温度範囲：-70⇔0℃ |
| 型式 | 設置場所 | |
| TSC 103 | ミズサワセミコンダクタ 岩手工場 |
| 装置イメージ | メーカー名 | 装置仕様 |
 «基本料金/Hr» ¥610～(+別途工数分) |
エスペック(株)製 | ■高温槽温度範囲：60⇔200℃ ■低温槽温度範囲：-70⇔0℃ |
| 型式 | 設置場所 | |
| TSA-101S-W | 国見メディアデバイス 福島工場 |
恒温器
| 装置イメージ | メーカー名 | 装置仕様 |
 «基本料金/Hr» ¥130～(+別途工数分) |
エスペック(株)製 | ■温度範囲：(外囲温度+20)℃⇔+200℃ |
| 型式 | 設置場所 | |
| PH-202 | ミズサワセミコンダクタ 岩手工場 |
高度加速寿命試験装置 ハストチャンバー
| 装置イメージ | メーカー名 | 装置仕様 |
 «基本料金/Hr» ¥500～(+別途工数分) |
エスペック(株)製 | ■温度範囲：+105.0⇔142.9℃ ■湿度範囲：75⇔98% ■圧力範囲：0.020⇔0.198MPa |
| 型式 | 設置場所 | |
| EHS-211M | ミズサワセミコンダクタ (岩手工場) |
超低温恒温恒湿器
| 装置イメージ | メーカー名 | 装置仕様 |
 «基本料金/Hr» ¥310～(+別途工数分) |
エスペック(株)製 | ■温度範囲：-70⇔+100℃ ■湿度範囲：20⇔98%RH |
| 型式 | 設置場所 | |
| PSL-2KP | ミズサワセミコンダクタ (岩手工場) |
| 装置イメージ | メーカー名 | 装置仕様 |
 «基本料金/Hr» ¥310～(+別途工数分) |
エスペック(株)製 | ■温度範囲：-70⇔+150℃ ■湿度範囲：20⇔98%RH |
| 型式 | 設置場所 | |
| PSL-2KPH | 国見メディアデバイス (福島工場) |
超低温恒温器
| 装置イメージ | メーカー名 | 装置仕様 |
«基本料金/Hr» ¥310～(+別途工数分) |
エスペック(株)製 | ■温度範囲：-70⇔+150℃ |
| 型式 | 設置場所 | |
| PG-2KPH | 国見メディアデバイス (福島工場) |
3.解析 仕様一覧
SEM(走査電子顕微鏡)
| 装置イメージ | 解析イメージ | 装置仕様 |
 «基本料金/Hr» ¥1,200～(+別途工数分) |
 |
■最大資料サイズ：φ200mm ■倍率：×5⇔300,000 ■分解能：3.0mm (高真空モード/30kV) ■元素分析装置：EDS内蔵 |
| メーカー名 | 型式 | 設置場所 |
| 日本電子(株) | JSM-6490LA | 国見メディアデバイス (福島工場) |
SAT(超音波探傷装置)
| 装置イメージ | 解析イメージ | 装置仕様 |
 «基本料金/Hr» ¥1,200～(+別途工数分) |
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■有効ストローク：308×308×60mm ■周波数：10⇔230MHz(7種) ■解像度：0.5μm ■反射像/透過像同時計測 |
| メーカー名 | 型式 | 設置場所 |
| SONOSCAN | Gen6 | ミズサワセミコンダクタ (岩手工場) |
X線検査装置
| 装置イメージ | 解析イメージ | 装置仕様 |
 «基本料金/Hr» ¥990～(+別途工数分) |
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■最大管電圧/最大管電流：90kV/0.25mA(10W制御) ■X線検出器：CMOS FPD ■幾何学的最大拡大率(視野角(mm))： 約25倍 ■傾斜機構：0～50度(視点追従機能有) ■テーブルサイズ：350 × 400(mm) ■ＸＹストローク：300 × 350(mm) |
| メーカー名 | 型式 | 設置場所 |
| ポニー工業(株) | MH-3090-M | ミズサワセミコンダクタ (岩手工場) |
| 装置イメージ | 解析イメージ | 装置仕様 |
 «基本料金/Hr» ¥990～(+別途工数分) |
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■最大管電圧/最大管電流：90kV / 0.25mA (10W制御) ■X線検出器：CMOS FPD ■幾何学的最大拡大率(視野角(mm))： 約30倍 ■傾斜機構：0～50度 ■テーブルサイズ：320 × 370(mm) ■XYXストローク：300 × 350 ×200(mm) |
| メーカー名 | 型式 | 設置場所 |
| ポニー工業(株) | Ω-90 | ミズサワセミコンダクタ (岩手工場) |
試料研磨装置
| 装置イメージ | 解析イメージ | 装置仕様 |
 «基本料金/Hr» ¥170～(+別途工数分) |
 |
■研磨盤サイズ：8/10インチ ■研磨法：手動 |
| メーカー名 | 型式 | 設置場所 |
| BUEHLER | metaserv250 | ミズサワセミコンダクタ (岩手工場) |
蛍光X線膜厚計
| 装置イメージ | 解析イメージ | 装置仕様 |
 «基本料金/Hr» ¥1,590～(+別途工数分) |
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■測定元素：原子番号Na(11)～U(92) ※Heパージオプション ■試験形状：液体・粉末・個体 ■線源：小型空冷式X線管球(Rh or Wターゲット)、管電圧50(可変)kV、管電流20～1000μA ■X線照射向き：上面垂直照射型 ■検出器：Vortex(SDD検出器)※液化窒素不要 ■分析領域：0.2、0.5、1.2、3.0mm□(自動切換え) ■試料観察：高解像度CCDカメラ 2系統 ■フィルタ：6モード電動切り替え ■最大資料サイズ：250(W)×200(D)×150(H) ■サンプルチェンジャ：連続多点測定機能 |
| メーカー名 | 型式 | 設置場所 |
| (株)日立ハイテクサイエンス | EA6000VX | ミズサワセミコンダクタ 岩手工場 |
表面粗さ計
| 装置イメージ | 解析イメージ | 装置仕様 |
 «基本料金/Hr» ¥1,000～(+別途工数分) |
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■検出器型式：PU-DJ2S ■先端頂角：90° ■先端曲率半径：R2μm ■測定力：0.7mN or less ■測定範囲：600μm |
| メーカー名 | 型式 | 設置場所 |
| (株)小坂研究所 | SE3500 | ミズサワセミコンダクタ 岩手工場 |
デジタルマイクロスコープ
| 装置イメージ | 解析イメージ | 装置仕様 |
 «基本料金/Hr» ¥1,010～(+別途工数分) |
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■ハイレゾリューションヘッド1/1.7型 ■1,222万画素 CMOSイメージセンサ ■総画素：4,168(H)×3,062(V) ■実効画素：4,024(H)×3,036(V) ■高輝度LED内蔵 ハイダイナミックレンジ ■有効倍率：約10～2,500倍 ■3D深度合成 画像連結機能搭載 ■超高精細4K大画面モニタ搭載 ■各種計測関連機能が充実 |
| メーカー名 | 型式 | 設置場所 |
| (株)キーエンス | VHX-7000 | ミズサワセミコンダクタ 岩手工場 |